?3.影響貼片電容容值測(cè)量偏低的因素
?（1)測(cè)試儀器內(nèi)部的阻抗大小影響
? 由于不同的測(cè)試儀器之間的內(nèi)部阻抗都不同，造成儀器將總電壓分壓而使加在測(cè)試電容兩端的實(shí)際電壓變小。在實(shí)際的測(cè)試過(guò)程中，我們有必要先使用萬(wàn)用表等工具測(cè)試夾具兩端的實(shí)際電壓，以確定加在測(cè)試貼片電容兩端的輸出電壓。
?（2）不同阻抗的測(cè)試儀器的輸出電壓對(duì)比如下：
? ?儀器內(nèi)阻100Ω
? ?1V*（100Ω/（100Ω+16Ω））=0.86V
? ?10uF測(cè)試電容的兩端電壓：
? ?1V*（16Ω/（100Ω+16Ω））=0.14V
? ?平均電容值讀數(shù)：6-7uF
? ?儀器內(nèi)阻 1.5Ω：
? ?1V*（1.5Ω/（1.5Ω+16Ω））=0.086V
? ?10uF測(cè)試電容兩端電壓：
?? 1V*（16Ω（1.5Ω+16Ω））=0.914V
?? 平均電容值讀數(shù)：9-10uF
?? 4. 測(cè)量環(huán)境條件對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響
? ?貼片陶瓷電容系列產(chǎn)品被稱為非溫度補(bǔ)償性元件，即在不同的工作環(huán)境下，電容量會(huì)有比較顯著的變化，在不同的工作環(huán)境下，電容標(biāo)稱值與實(shí)際容值之間的差異。例如，在40℃的測(cè)試容量將比25℃的測(cè)試容量低了接近20%。由此可見(jiàn)，在外部環(huán)境溫度比較高的情況下，電容容值的測(cè)試值就會(huì)顯得偏低。我們通常建議放置在20℃的環(huán)境下一段時(shí)間，使材料處于穩(wěn)定的測(cè)試環(huán)境下在進(jìn)行容值測(cè)試。
?? ?5、貼片陶瓷電容產(chǎn)品材料老化現(xiàn)象
材料老化是指電容的容值隨著時(shí)間降低的現(xiàn)象，這再所有以鐵電系材料做介電質(zhì)的材料產(chǎn)品中均有發(fā)生，是一種自然的不可避免的現(xiàn)象。原因是因?yàn)閮?nèi)部晶體結(jié)構(gòu)隨溫度和時(shí)間產(chǎn)生了變化導(dǎo)致了容值的下降，屬于可逆現(xiàn)象。當(dāng)對(duì)老化的材料施加高于材料居里溫度段時(shí)間后（建議進(jìn)行容值恢復(fù)所使用之條件為150℃/1hour），當(dāng)環(huán)境溫度恢復(fù)到常溫后（常溫25℃下放置24小時(shí)）,材料的分子結(jié)構(gòu)將會(huì)回到原始的狀態(tài)。材料將由此開(kāi)始老化的又一個(gè)循環(huán)，貼片電容的容值將恢復(fù)到正常規(guī)格之內(nèi)。
??? 用以上方式驗(yàn)證，把測(cè)試容量偏低的電容器浸在錫爐或者回流焊后，再進(jìn)行測(cè)試，容值會(huì)恢復(fù)到正常范圍之間。
