“容差”這個詞，對于陶瓷電容（也叫做MLCC，就是我們常說的多層陶瓷電容）來說，是指設備電容跟標稱值之間的偏差。這個偏差主要是因為制造過程中的變化。我們在測試的時候，會有嚴格的條件，目的就是為了排除其他因素的干擾。

有些人以為這個“容差”是一個固定的范圍，不管什么條件下，測量出來的值都應該在這個范圍內。很多產(chǎn)品確實是這樣，但陶瓷電容不是。特別是那些基于2類和3類電介質的陶瓷電容，它們的電容特性很不穩(wěn)定。所以，如果你隨便測一下，很可能得到一個超出標稱值范圍的值。但這不代表這個產(chǎn)品有問題，只是因為這個技術的特性就是這樣。

想要準確測陶瓷電容的電容值，有三個因素很關鍵，那就是測試信號、溫度和時間。

測試信號：比如，下圖展示了直流偏置和交流測試信號振幅對觀測的電容值產(chǎn)生的影響。這張圖來自三星電容CL31A106KAHNNNE的特性表，你看，只是改變一下交流電的振幅，測出來的電容值就會浮動-15%到+10%。如果用直流偏置的話，影響就更大了。所以啊，那些以為所有偏差都在標稱的+/-10%容差范圍內的人，是不是覺得大吃一驚呢？

溫度：下面這張圖展示了幾個不同溫度特性的電容系列，它們的電容是怎么隨著溫度變化的。除了1類電介質的設備外，其他設備在工作溫度變化很大的情況下，預期的最小變化幅度約為10%。不過這張圖只展示了溫度的影響，實際上其他因素還會進一步增加觀測的電容值的變化幅度。所以啊，那些以為規(guī)定的“容差”是一個總體概念的人，是不是覺得這是個不受歡迎的意外現(xiàn)實呢？

時間：最后啊，陶瓷電容（不包括1類電介質）也會老化，也就是說它們的電容會隨著時間的推移逐漸減少。這種減少是從最后一次加熱到材料特定溫度時開始計算的。這種加熱一般發(fā)生在制造或組裝階段。老化速度取決于材料，而且會不斷累積。每過十倍的時間，電容就會減少幾個百分點。這篇帖子13有更詳細的描述。時間因素可以增加或掩蓋其他因素對所觀測的電容值的影響（依據(jù)具體情況而定）。所以啊，“容差”并不是所有影響因素的總和。

綜上所述：

“容差”只是影響陶瓷電容觀測值的其中一個因素而已，并不是全部。

其他因素的影響可能遠遠超過指定的容差值。但這并不能算產(chǎn)品有問題或者不符合規(guī)格。

我們用的測試信號、設備溫度和設備最后一次去老化后的時間都會影響陶瓷電容的觀測電容。所有這些因素都必須符合廠商的測試條件，這樣我們才能準確測量出電容是否符合廠商的規(guī)格。

現(xiàn)在市面上的很多萬用表上的電容測量功能其實并不能準確確定產(chǎn)品是否符合廠商的規(guī)格。

如果你需要一個穩(wěn)定的電容，那就別考慮除了1類電介質（C0G或NP0最常見）以外的陶瓷電容了。

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