貼片電容的測量常見問題解答

一、什么是測量誤差補償，為什么需要補償？

補償是用于補償測量過程中所增加誤差的一個技術，如挾具、鑷子等中的殘留寄生。測量電容器時，要進行連接接觸需要挾具或鑷子鉗。但是，挾具有一些寄生阻抗和導納，這可能會使測量值增加不必要的阻抗或導納。因此，需要寄生成分的補償。

補償通常包括三個步驟。這些步驟為開路、短路和負載補償。執(zhí)行開路補償時，補償寄生導納。執(zhí)行短路補償時，補償寄生阻抗。負載補償設置50Ω負載測量的基準點。深圳智成電子作為TDK代理提醒你對于低電容量(<1000pF)的測量,任何額外的測量誤差都可能會極大影響顯示值。因此補償對于低電容量)

二、貼片電容的Cp或Cs有何不同？

阻抗分析儀表可以測量稱作Cp的并聯電容或稱作Cs的串聯電容4。電路模式將取決于電容器的電容值（圖1）。當C小而阻抗大時，C和Rp之間的并聯阻抗將會明顯高于Rs。因此用于測量電容量的儀表設置應為Cp。當C大而阻抗小時，C和Rp的并聯阻抗不太大。因此，儀表設置應使用Cs來測量電容量。選擇阻抗設置的一個好的經驗規(guī)則是，對大于10kΩ的電容器阻抗值使用Cp，對小于10Ω的使用Cs。

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